檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "Jinn-Hsuan Ho".eadvisor (精準) and ckeyword.raw="薄膜電晶體"
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此研究利用接觸角量測儀以及X光電子能譜儀驗證阻擋層對於圖案化ITO玻璃基板具有良好選擇性,從而有效阻止矽烷基團與ITO表面進行鍵結,而利用移除試劑移除後,電極功函數與原先之差異並不大。並探討兩種相反…